ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ
ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ
ГОСТ 27964-88 (СТ СЭВ 6134-87, ИСО 4287/2-84)
Издание официальное
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ Москва
УДК 001.4:620.191.355:006.354 Группа Г00
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ стандарт СОЮЗА ССР
ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ
Термины и определения
(CT СЭВ 6134—87, И CO 4287/2—84)
Measurement of surface roughness parameters. Terms and definitions.
ОКСТУ 0094
Дата введения 01.01.90
Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий, относящихся к измерению параметров и характеристик шероховатости поверхности.
Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу действия стандартизации или использующих результаты этой деятельности.
1. Стандартизованные термины с определениями приведены в табл. 1.
2. Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин.
Применение терминов — синонимов стандартизованного термина не допускается.
2.1. Приведенные определения можно при необходимости изменять, вводя в них производные признаки, раскрывая значения используемых в них терминов, указывая объекты, входящие в объем определяемого понятия. Изменения не должны нарушать объем и содержание понятий, определенных в данном стандарте.
2.2. В табл. 1 приведены в качестве справочных буквенные обозначения к ряду терминов.
2.3. В табл. 1 к термину 36 приведен чертеж.
2.4. В табл. 1 в качестве справочных приведены иноязычные эквиваленты стандартизованных терминов на английском (Е) и французском (F) языках.
3. Алфавитные указатели содержащихся в стандарте терминов на русском языке и их. иноязычных эквивалентов приведены в табл. 2—5.
Перепечатка воспрещена © Издательство стандартов, 1989
1. Преобразование профиля
E. Profile transformation
F. Transformation du profil
2. Преобразованный профиль
E. Transformed profile
F. Profil transform^
3. Преднамеренное преобразование профиля
E. Intentional profile transformation
F. Transformation volontaire du profil
4. Непреднамеренное преобразование профиля
E. Unintentional profile transformation
F. Transformation involontalre du profil
5. Ощупанный профиль
E. Traced profile
F. Profil раТрб
6. Модифицированный профиль
E. Modified profile
F. Profil modiftt
Действие или операция, преднамеренно или непреднамеренно изменяющие информацию о профиле на любой стадии измерения.
Примечание. Например, при огибании профиля щупом, фильтровании, записи и т. д.
Профиль, получаемый в результате его преобразования
Преобразование профиля, проводимое для измерения в соответствии с установленными требованиями.
Примечание. Например, подавление низкочастотных гармоник в спектре профиля путем фильтрования для выделения коротковолновой части профиля, которая при измерении рассматривается как шероховатость Преобразование профиля, возникающее из-за несовершенства измерительной аппаратуры или отдельных ее частей и обычно проявляющееся в виде искажений информации о профиле.
Примечание. Например, искажение информации о профиле при огибании его щупом с конечным радиусом вершины
Преобразованный профиль, представляющий собой геометрическое место положений центра вершины щупа при огибании им реального профиля.
Примечания:
1. Для контактного щупа за центр его вершины принимают любую точку рабочей вершины.
2. Для бесконтактного оптического щупа за центр его вершины принимается центр сферы, у которой диаметр равен диаметру сфокусированного пятна на поверхности Преднамеренно преобразованный профиль, получаемый в результате воздействия фильтрующей системы, применяемой для выделения той части спектра реального профиля, которая должна быть учтена при измерении параметров шероховатости поверхности
|
ГОСТ 27964-88 С. 3 |
|
Продолжение табл. 1 |
|
Термин |
Определение |
|
7. Измеренный профиль
E. Measured profile
F. Profil mesurfc
8. Шаг дискретизации профиля по длине Ах
E. Profile sampling interval
F. Pas de discretisation du profil |
Профиль, полученный в результате измерения
Расстояние между соседними дискретными ординатами профиля при измерении параметров поверхности цифровыми методами (см. черт. 1) |
|
Расстояние между соседними отсчетами при измерении значения каждой ординаты профиля цифровыми методами (черт. 1).
9. Шаг квантования профиля по уровню Ду
E. Profile quantization step
F. Pas de quantification du profil
Примечание. Значение ординаты профиля округляется при дискретном измерении целого числа п шагов квантования
уа=пЬу,
”=еп1(о15+—-)•
где Y.i — значение ординаты профиля, полученное при дискретном измерении;
10. Идеальный оператор
E. Ideal operator
F. Operateur ideal
Ау — шаг квантования профиля по уровню; ent — функция (оператор) выделения целой части числа; у — истинное значение ординаты профиля; п — целое число шагов квантования в данной ординате профиля
Алгоритм или процедура, которые предполагают исходное, теоретически точное определение параметров или характеристик поверхности (см. черт. 2)
|
Точно (идеально) определенные параметры поверхности
■А V |
|
Оптимальный |
|
Оптимальный |
|
Оптимальный |
|
оператор |
|
оператор |
|
оператор |
|
|
ГГ- |
|
t- 1 |
~1 |
|
|
Параметр поверхности, |
|
Параметр поверхности, |
|
Порометр поверхности. |
|
|
определенный |
|
определенный |
|
определенный |
<3 |
|
оптимальным-операторон |
|
оптимальным оператором |
|
оптимальным оператором |
|
|
|
\ |
|
Реальный |
|
Реальный |
|
Реальный |
|
оператор |
|
оператор |
|
оператор |
|
|
Параметр поверхности, полученный в результате практического измерения |
\
/
11. Оптимальный онератор
E. Optimum operator
F. Op6rateur optimal
12. Реальный оператор
E. Real operator
F. Operateur reel
13. Методическая погрешность AM
E. Method error
F. Erreur due k la methode
14. Методическое расхождение
AM f)
E. Method divergence
F. Divergence entre mdthodes
15. Погрешность прибора AA
E. Instrument error
F. Erreur de Instrument
Алгоритм или процедура, принятые для практического определения параметров или характеристик поверхности с приемлемыми затратами (черт. 2) Практически реализованный оптимальный оператор.
Примечание. Реальный оператор отличается от оптимального оператора погрешностью изготовления прибора или изменением характеристик в течение времени (черт. 2) Разность между значением параметра поверхности, определенного в соответствии с оптимальным оператором и истинным значением этого же параметра, определенным в соответствии с идеальным оператором (черт, 2)
Различия, возникающие в результате применения разных оптимальных операторов для получения одного и того же значения данного параметра (чеит. 2) Разность между значением параметра поверхности, определенным реальным оператором и значением этого же параметра, определенным оптимальным оператором (черт. 2)
|
17. Основная погрешность профилометра
E. Basic error of a profile meter reading
F. Erreur de base des indications du profilometre |
Разность между значением параметра поверхности, определенным в соответствии с реальным оператором, и истинным значением этого же параметра, определенным в соответствии с идеальным оператором.
Примечание. Такая погрешность включает методическую погрешность и погрешность прибора (черт. 2) Полная погрешность профилометра, определенная при нормальных условиях, включающих стандартное входное воздействие на измерительный преобразователь прибора |
|
СРЕДСТВА
18. Профильный метод измерения шероховатости поверхности
E. Profile method of measurement of the surface roughness
F. MSthode du profit pour le mcsurage de la rugosite des surfaces
19. Аппаратура для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом
E. Instrument for the measurement of surface roughness by the profile method
F. Instrument de mesurage de la Tugosite des surfaces par la methode du profil
20. Контактный прибор последовательного преобразования профиля
E. Contact instrument of consecutive profile transformation
F. Instrument avec contact, & transformation consecutive du profil
21. Бесконтактный прибор последовательного преобразования профиля
E. Contactless instrument of consecutive profile transformation
F. Instrument sans contact, h transformation consecutive du profil
22. Ощупывающая система прибора
E. Traversing system of an instrument
F. Systeme de palpage d’un instrument |
ИЗМЕРЕНИЯ
Метод оценки шероховатости поверхности по параметрам ее преобразованных профилей
Приборы, позволяющие определить параметры шероховатости поверхности по ее преобразованным профилям
Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с последовательным преобразованием информации о профиле при механическом ощупывании измеряемой поверхности щупом
Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с последовательным преобразованием информации о профиле без механического взаимодействия с измеряемой поверхностью
Узел прибора последовательного преобразования профиля, предназначенный для первичного преобразования информации об измеряемой поверхности, состоящей из датчика и системы его перемещения относительно измеряемой поверхности |
Продолжение табл. 1
Определение
|
23. Ощупывающая система прибора с зависимой опорой
E. Traversing system of an instrument with skid—dependent datum
F. Systёme de palpage avec patin d’un instrument
24. Ощупывающая система прибора с независимой опорой
E. Traversing system of an instrument with the external reference datum
F. Syst§me de palpage avec reference independante d’un instrument
25. Контактный прибор одновременного преобразования профиля
E. Contact instrument of instantaneous profile transformation
F. Instrument avec contact, & transformation instantanSe du profil
26. Бесконтактный прибор одновременного преобразования профиля
E. Contactless instrument of instantaneous profile transformation
F. Instrument sans contact, й transformation instantanee du profil
27. Профилометр
E. Profile meter
F. Profilometre
28. Профилометр с постоянной длиной трассы ощупывания при измерении
E. Profile meter with predetermined traversing length
F. Profilometre a longueur d’explo-ration constante
29. Профилограф
E. Profile recording instrument
F. Enregistreur |
Ощупывающая система прибора, в которой датчик опирается на измеряемую поверхность, так что эта поверхность, действуя на опору датчика, оказывает влияние на траекторию его перемещения относительно поверхности Ощупывающая система прибора, в которой датчик не опирается на измеряемую поверхность и перемещается независимо, сохраняя ориентацию постоянной, что достигается путем перемещения датчика по внешней базе, так что измеряемая поверхность не действует на датчик и не оказывает влияния на траекторию его перемещения относительно поверхности Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с одновременным преобразованием информации о профиле при механическом взаимодействии с измеряемой поверхностью Прибор для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом с одновременным преобразованием информации о профиле без механического взаимодействия с измеряемой поверхностью Прибор для измерения параметров шероховатости, показывающий значения этих параметров или обеспечивающий их регистрацию Профилометр, измеряющий параметр шероховатости поверхности на отрезке длины, начало и конец которого зафиксированы ограничителями.
Примечание. Профилометры этого типа обычно показывают и удерживают значение измеряемого параметра, полученное в конце указанного отрезка длины
Прибор для регистрации и измерения координат профиля поверхности в любой форме |
ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ
|
30. Вертикальное увеличение прибора Vv
E. Vertical magnification of а profile recording instrument
F. Grossissement vertical d’un enregistreur |
Масштаб преобразования координат профиля в направлении перемещения щупа, перпендикулярном к поверхности |
Продолжение табл. I
Определение
|
31. Горизонтальное увеличение прибора Vh
E. Horizontal magnification of а profile recording instrument
F. Grossissement horizontal d’un enregistreur
32. Относительная погрешность вертикального увеличения прибора
6о
E. Relative error of vertical magnification of an instrument
F. Erreur relative du grossissement vertical d’un enregistreur
33. Относительная погрешность горизонтального увеличения прибора бл
E. Relative error of horizontal magnification of an instrument
F. Erreur relative du grossissement horizontal d’un enregistreur
34. Статическое измерительное усилие
E. Static measuring force
F. Effort statique de mesurage
35. Постоянная изменения измерительного усилия
E. Rate of change of the static measuring force
F. Taux de variation de I'effort statique de mcsure
36. Длина трассы ощупывания
E. Traversing length
F. Longueur d’exploration |
Масштаб преобразования координат профиля в направлении перемещения щупа вдоль поверхности.
Примечание. Под масштабом преобразования понимают отношение регистрируемой величины к перемещению щупа в соответствующем направлении. Применительно к профи-лограмме—отношение движения пера или носителя к перемещению щупа в соответствующем направлении Разность между действительным и номинальным значениями вертикального увеличения прибора, отнесенная к номинальному значению и выраженная в процентах
Разность между действительным и номинальным значениями горизонтального увеличения прибора, отнесенная к номинальному значению и выраженная в процентах
Усилие воздействия щупа вдоль его оси на контролируемую поверхность, без учета динамических составляющих, возникающих в процессе ощупывания Изменение на единицу перемещения статического измерительного усилия, действующего на щуп вдоль оси
Полная длина участка поверхности, в пределах которого расположен профиль измеряемой поверхности, ощупанный прибором при измерении (см. черт. 3)
|
Длина трассы ощупывания |
|
|
|
/1 — длина участка предварительною хода датчика; 1п — длина участка измерения; В — длина участка за» ыершлющего хода датчика Черт. 3 |
|
|
|
Продолжение табл. / |
|
Термич |
Определение |
|
37. Длина участка измерения
E. Measuring length
F. Longueur de mesure |
Часть длины трассы ощупывания, в пределах которой находится профиль, параметры которого подлежат измере- |
|
38. Отсечка шага
E. Cut-off
F. Longueur d’onde de coupure |
нию.
Примечание. Длина участка измерения равна длине оценки /п Длина волны ХВ, численно равная базовой длине / и условно принимаемая в качестве верхней границы пропускания профилометра, для которой установлен определенный коэффициент пропускания.
Примечания:
1. Для аналоговых электрических фильтров он равен 75%.
2. Указанная верхняя граница условно отделяет номинально пропускаемые от номинально подавляемых компонентов спектра профиля |
|
АЛФАВИТНЫЙ УКАЗАТЕЛЬ ТЕРМИНОВ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ
Таблица 2 |
|
Термин |
Номер
термина |
|
Аппаратура для измерения параметров шероховатости поверхности профильным методом |
19 |
|
Длина трассы ощупывания |
36 |
|
Длина участка измерения |
37 |
|
Метод измерения шероховатости поверхности профильный |
18 |
|
Оператор идеальный |
10 |
|
Оператор оптимальный |
11 |
|
Оператор реальный |
12 |
|
Отсечка шага
Погрешность вертикальною увеличения прибора 60 относи- |
38 |
|
тельная
Погрешность горизонтального увеличения прибора бл относи- |
32 |
|
тельная |
33 |
|
Погрешность методическая AM |
13 |
|
Погрешность прибора АЛ |
15 |
|
Погрешность прибора полная Т |
16 |
|
Погрешность профилометра основная |
17 |
|
Постоянная изменения измерительного усилия |
35 |
|
Преобразование профиля |
1 |
|
Преобразование профиля непреднамеренное |
4 |
|
Преобразование профиля преднамеренное Прибор одновременного преобразования профиля бесконтактный
Прибор одновременного преобразования профиля контактный Прибор последовательного преобразования профиля бескон- |
3
26
25 |
|
такткый
Прибор последовательного преобразования профиля контакт- |
21 |
|
«ый |
20 |
|
Профилограф |
29 |
|
Профилометр
Профилометр с постоянной длиной трассы ощупывания при |
27 |
|
измерении |
28 |
|
Профиль измеренный |
7 |
|
Профиль модифицированный |
6 |
|
Профиль ощупанный |
5 |
|
Профиль преобразованный |
2 |
|
Расхождение методическое A |
14 |
|
Система прибора ощупывающая |
22 |
|
Система прибора с зависимой опорой ощупывающая |
23 |
|
Система прибора с независимой опорой ощупывающая |
24 |
|
Увеличение прибора вертикальное Vv |
30 |
|
Увеличение прибора горизонтальное V* |
31 |
|
Усилие измерительное статическое |
34 |
|
Шаг дискретизации профиля по длине Ах |
8 |
|
Шаг квантования профиля по уровню А</ |
9 |
|
